《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志屬于未開放OA期刊。

可以通過以下幾種方法進行判斷：

一、利用Web of Science數(shù)據(jù)庫查詢

進入平臺、選擇數(shù)據(jù)庫、設(shè)置OA篩選條件、輸入檢索詞、執(zhí)行檢索、查看結(jié)果。

二、通過學術(shù)期刊信息平臺查詢

除了WOS平臺外，還可以借助學術(shù)期刊信息平臺來查詢SCI期刊是否為OA期刊。

三、查看期刊官網(wǎng)信息

如果以上方法均無法獲取所需信息，還可以嘗試直接訪問期刊的官方網(wǎng)站。在期刊的基本介紹中，通常會說明期刊是否為OA期刊、非OA期刊還是混合期刊。

綜上所述，用戶可根據(jù)自身需求和實際情況選擇合適的方法進行查詢。

Ieee Transactions On Device And Materials Reliability（IEEE Transactions on Device and Materials Reliability雜志）是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程：電子與電氣為研究方向，OA非開放（Not Open Access）的國際優(yōu)秀期刊。旨在幫助發(fā)展和壯大工程技術(shù)及相關(guān)學科的各個方面。該期刊接受多種不同類型的文章。本刊出版語言為English，創(chuàng)刊于2001年。

自創(chuàng)刊以來，已被SCIE（科學引文索引擴展板）等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文，重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應用。

該雜志ISSN：1530-4388，E-ISSN：1558-2574，在中科院的大類學科分類中，該雜志屬于工程技術(shù)范疇，而在小類學科中，它主要涵蓋了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣這一領(lǐng)域。

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志在JCR分區(qū)為Q2：按JIF指標學科分區(qū)為Q2區(qū)，Q2區(qū)，按JCI指標學科分區(qū)為Q3區(qū)，Q3區(qū)，另外其影響因子為2.5，這表明該雜志在學術(shù)界具有較高的影響力和認可度。