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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement雜志影響因子查詢?nèi)肟冢?/h1>

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志影響因子:5.6。

期刊Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement近年評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)趨勢(shì)圖

期刊影響因子趨勢(shì)圖

以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?

(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺(tái),收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊,提供詳細(xì)的期刊引證報(bào)告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。

(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個(gè)網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。

(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國(guó)際優(yōu)秀期刊。

該雜志出版語言為English,創(chuàng)刊于1952年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學(xué)引文索引擴(kuò)展板)等國(guó)內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點(diǎn)介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實(shí)踐中的理論、研究和應(yīng)用。

?學(xué)術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q1區(qū),中科院分區(qū)為工程技術(shù)大類2區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類2區(qū)。

期刊發(fā)文分析

國(guó)家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
國(guó)家 / 地區(qū) 發(fā)文量
CHINA MAINLAND 696
Italy 237
USA 215
India 144
England 101
Canada 92
GERMANY (FED REP GER) 70
Spain 53
South Korea 47
Brazil 38
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE SENS J 265
IEEE T IND ELECTRON 205
MEAS SCI TECHNOL 203
SENSORS-BASEL 177
IEEE T MICROW THEORY 174
METROLOGIA 167
IEEE T POWER DELIVER 162
MEASUREMENT 151
MECH SYST SIGNAL PR 132
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊被引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE ACCESS 940
SENSORS-BASEL 761
IEEE SENS J 555
MEASUREMENT 390
ENERGIES 245
APPL SCI-BASEL 194
ELECTRONICS-SWITZ 169
IEEE T IND ELECTRON 149
MEAS SCI TECHNOL 149
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
文章引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
Automatic Defect Detection of Fasteners on... 54
Intelligent Bearing Fault Diagnosis Method... 53
Medical Image Fusion With Parameter-Adapti... 43
Monitoring of Large-Area IoT Sensors Using... 40
Vibration-Based Intelligent Fault Diagnosi... 34
Deep Architecture for High-Speed Railway I... 26
Highly Sensitive SPR Biosensor Based on Gr... 26
RideNN: A New Rider Optimization Algorithm... 25
An Unsupervised-Learning-Based Approach fo... 21
A CNN-Based Defect Inspection Method for C... 20

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement雜志

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

研究方向:工程技術(shù)-工程:電子與電氣

中科院分區(qū):2區(qū),JCR分區(qū):Q1

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