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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement SCIE

儀器儀表和測量的IEEE Transactions  國際簡稱：IEEE T INSTRUM MEAS

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement（儀器儀表和測量的IEEE Transactions雜志）是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程：電子與電氣為研究方向，OA非開放（Not Open Access）的國際優(yōu)秀期刊。旨在幫助發(fā)展和壯大工程技術(shù)及相關(guān)學科的各個方面。該期刊接受多種不同類型的文章。本刊出版語言為English，創(chuàng)刊于1952年。自創(chuàng)刊以來，已被SCIE（科學引文索引擴展板）等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文，重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應用。

雜志介紹

  • ISSN：0018-9456

    E-ISSN：1557-9662

    出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

  • 出版語言：English

    出版地區(qū)：UNITED STATES

    出版周期：Bimonthly

  • 是否OA：未開放

    是否預警：否

    創(chuàng)刊時間：1952

  • 年發(fā)文量：2247

    影響因子：5.6

    研究類文章占比：99.47%

    Gold OA文章占比：6.42%

    H-index：100

    出版國人文章占比：0.31

    出版撤稿文章占比：

    開源占比：0.07...

    文章自引率：0.2321...

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》是一份國際優(yōu)秀期刊，為工程技術(shù)領(lǐng)域的研究人員和從業(yè)者提供科學論壇。該期刊涵蓋了工程技術(shù)及相關(guān)學科的所有方面，包括基礎(chǔ)和應用研究，使讀者能夠獲得來自世界各地的最新、前沿的研究。該期刊歡迎涉及工程技術(shù)領(lǐng)域的原創(chuàng)理論、方法、技術(shù)和重要應用的稿件，并刊載了涉及工程技術(shù)領(lǐng)域的相關(guān)欄目：綜述、論著、述評、論著摘要等。所有投稿都有望達到高標準的科學嚴謹性，并為推進該領(lǐng)域的科研知識傳播做出貢獻。該期刊最新CiteScore值為9，最新影響因子為5.6，SJR指數(shù)為1.536，SNIP指數(shù)為1.741。

期刊Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖

中科院SCI期刊分區(qū)大類分區(qū)趨勢圖
期刊自引率趨勢圖
期刊CiteScore趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
期刊年發(fā)文量趨勢圖

期刊CiteScore指數(shù)統(tǒng)計（2024年最新版）

CiteScore指標的應用非常廣泛，以期刊的引用次數(shù)為基礎(chǔ)評估期刊的影響力。它可以反映期刊的學術(shù)影響力和學術(shù)水平，是學術(shù)界常用的期刊評價指標之一。

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
9 1.536 1.741
學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Instrumentation Q1 13 / 141

91%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797

85%

CiteScore是由Elsevier公司開發(fā)的一種用于衡量科學期刊影響力的指標，以期刊的引用次數(shù)為基礎(chǔ)評估期刊的影響力。這個指標是由Scopus數(shù)據(jù)庫支持，以四年為一個時段，連續(xù)評估期刊和叢書的引文影響力的。具體來說，CiteScore是計算某期刊連續(xù)三年發(fā)表的論文在第四年度的篇均引用次數(shù)。CiteScore和影響因子（IF）有所不同。例如，在影響因子的計算中，分子是來自所有文章的引用次數(shù)，包括編輯述評、讀者來信、更正信息和新聞等非研究性文章，而分母則不包括這些非研究性文章。然而，在CiteScore的計算中，分子和分母都包括這些非研究性文章。因此，如果這些非研究性文章比較多，由于分母較大，相較于影響因子，CiteScore計算出來的分數(shù)可能會偏低。此外，CiteScore的引用數(shù)據(jù)來自Scopus數(shù)據(jù)庫中的22000多個期刊，比影響因子來自Web of Science數(shù)據(jù)庫的11000多個期刊多了一倍。

期刊WOS(JCR)分區(qū)（2023-2024年最新版）

按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1%
學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8%
按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45%
學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45%

WOS(JCR)分區(qū)是由科睿唯安公司提出的一種新的期刊評價指標，分區(qū)越靠前一般代表期刊質(zhì)量越好，發(fā)文難度也越高。這種分級體系有助于科研人員快速了解各個期刊的影響力和地位。JCR將所有期刊按照各個學科領(lǐng)域進行分類，然后以影響因子為標準平均分為四個等級：Q1、Q2、Q3和Q4區(qū)。這種設(shè)計使得科研人員可以更容易地進行跨學科比較。

中科院SCI期刊分區(qū)

中科院SCI期刊分區(qū)是由中國科學院國家科學圖書館制定的。將所有的期刊按照學科進行分類，以影響因子為標準平均分為四個等級。分區(qū)越靠前一般代表期刊質(zhì)量越好，發(fā)文難度也越高。

2023年12月升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學科 小類學科
是 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

2022年12月升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學科 小類學科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

2021年12月舊的升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學科 小類學科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

2021年12月基礎(chǔ)版

Top期刊 綜述期刊 大類學科 小類學科
否 否 工程技術(shù) 3區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
3區(qū) 2區(qū)

2021年12月升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學科 小類學科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

2020年12月舊的升級版

Top期刊 綜述期刊 大類學科 小類學科
否 否 工程技術(shù) 2區(qū)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表
2區(qū) 2區(qū)

投稿提示

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement(中文譯名儀器儀表和測量的IEEE Transactions雜志)是一本專注于工程技術(shù),工程：電子與電氣領(lǐng)域的國際期刊，致力于為全球ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領(lǐng)域的研究者提供一個高質(zhì)量的學術(shù)交流平臺。該期刊ISSN：0018-9456，E-ISSN：1557-9662，出版周期Bimonthly。在中科院的大類學科分類中，該期刊屬于工程技術(shù)范疇，而在小類學科中，它主要涵蓋了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC這一領(lǐng)域。編輯部誠摯邀請廣大工程技術(shù)領(lǐng)域的專家學者投稿，內(nèi)容可以涵蓋工程技術(shù)的綜合研究、實踐應用、創(chuàng)新成果等方面。同時，我們也歡迎學者們就相關(guān)主題進行簡短的交流和評論，以促進學術(shù)界的互動與合作。為了保證期刊的質(zhì)量，審稿周期預計為 約6.8個月 。在此期間，編輯部將對所有投稿進行嚴格的同行評審，以確保發(fā)表的文章具有較高的學術(shù)價值和實用性。

值得一提的是，Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement近期并未被列入國際期刊預警名單，這意味著其學術(shù)質(zhì)量和影響力得到了廣泛認可。該期刊為工程技術(shù)領(lǐng)域的學者提供了一個優(yōu)質(zhì)的學術(shù)交流平臺。因此，關(guān)注并投稿至Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement無疑是一個明智的選擇，這將有助于提升您的學術(shù)聲譽和研究成果的傳播。

多年來，我們專注于期刊投稿服務，能夠為您分析推薦目標期刊。憑借多年來豐富的投稿經(jīng)驗和專業(yè)指導，我們有效助力提升錄用幾率。點擊以下按鈕即可免費咨詢。

投稿咨詢

期刊發(fā)文分析

國家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
國家 / 地區(qū) 發(fā)文量
CHINA MAINLAND 696
Italy 237
USA 215
India 144
England 101
Canada 92
GERMANY (FED REP GER) 70
Spain 53
South Korea 47
Brazil 38
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE SENS J 265
IEEE T IND ELECTRON 205
MEAS SCI TECHNOL 203
SENSORS-BASEL 177
IEEE T MICROW THEORY 174
METROLOGIA 167
IEEE T POWER DELIVER 162
MEASUREMENT 151
MECH SYST SIGNAL PR 132
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊被引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T INSTRUM MEAS 2095
IEEE ACCESS 940
SENSORS-BASEL 761
IEEE SENS J 555
MEASUREMENT 390
ENERGIES 245
APPL SCI-BASEL 194
ELECTRONICS-SWITZ 169
IEEE T IND ELECTRON 149
MEAS SCI TECHNOL 149
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
文章引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
Automatic Defect Detection of Fasteners on... 54
Intelligent Bearing Fault Diagnosis Method... 53
Medical Image Fusion With Parameter-Adapti... 43
Monitoring of Large-Area IoT Sensors Using... 40
Vibration-Based Intelligent Fault Diagnosi... 34
Deep Architecture for High-Speed Railway I... 26
Highly Sensitive SPR Biosensor Based on Gr... 26
RideNN: A New Rider Optimization Algorithm... 25
An Unsupervised-Learning-Based Approach fo... 21
A CNN-Based Defect Inspection Method for C... 20

免責聲明

若用戶需要出版服務，請聯(lián)系出版商：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。