《Ieee Transactions On Terahertz Science And Technology》雜志影響因子：3.9。
期刊Ieee Transactions On Terahertz Science And Technology近年評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)趨勢(shì)圖
期刊影響因子趨勢(shì)圖
以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?
（1）Web of Science：是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺(tái)，收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊，提供詳細(xì)的期刊引證報(bào)告，包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。
（2）?Journal Citation Reports (JCR)：JCR是科睿唯安旗下的一個(gè)網(wǎng)站，提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。
（3）中科院SCI期刊分區(qū)表：提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢，包括影響因子和分區(qū)信息。
《Ieee Transactions On Terahertz Science And Technology》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC-OPTICS為研究方向，OA非開放（Not Open Access）的國(guó)際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語言為English，創(chuàng)刊于2011年。自創(chuàng)刊以來，已被SCIE（科學(xué)引文索引擴(kuò)展板）等國(guó)內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文，重點(diǎn)介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實(shí)踐中的理論、研究和應(yīng)用。
?學(xué)術(shù)地位：在JCR分區(qū)中位列Q1區(qū)，中科院分區(qū)為工程技術(shù)大類2區(qū)，ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣小類2區(qū)。
期刊發(fā)文分析
國(guó)家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
| 國(guó)家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
| CHINA MAINLAND | 82 |
| USA | 58 |
| GERMANY (FED REP GER) | 33 |
| England | 26 |
| Japan | 20 |
| Sweden | 18 |
| France | 16 |
| Netherlands | 16 |
| Russia | 16 |
| South Korea | 12 |
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
| 期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
| IEEE T THZ SCI TECHN | 207 |
| APPL PHYS LETT | 130 |
| OPT EXPRESS | 117 |
| IEEE T MICROW THEORY | 109 |
| IEEE T ANTENN PROPAG | 86 |
| J INFRARED MILLIM TE | 63 |
| OPT LETT | 63 |
| J APPL PHYS | 60 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 59 |
| IEEE MICROW WIREL CO | 30 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
| 期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
| IEEE T THZ SCI TECHN | 207 |
| IEEE ACCESS | 115 |
| OPT EXPRESS | 75 |
| J INFRARED MILLIM TE | 71 |
| J PHYS D APPL PHYS | 52 |
| IEEE T MICROW THEORY | 44 |
| SCI REP-UK | 43 |
| SENSORS-BASEL | 41 |
| J APPL PHYS | 40 |
| APPL OPTICS | 37 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
| 文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
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