《Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena》雜志影響因子:1.8。
期刊Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
以下是一些常見的影響因子查詢入口:
(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權威平臺,收錄全球高質量學術期刊,提供詳細的期刊引證報告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關鍵指標。
(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關指標。用戶可以在該網站上查找特定期刊的影響因子信息。
(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。
《Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena》雜志是由Elsevier出版社主辦的一本以物理-光譜學為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語言為Multi-Language,創(chuàng)刊于1972年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學引文索引擴展板)等國內外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質量的論文,重點介紹了SPECTROSCOPY在分析和實踐中的理論、研究和應用。
?學術地位:在JCR分區(qū)中位列Q2區(qū),中科院分區(qū)為物理與天體物理大類4區(qū),SPECTROSCOPY光譜學小類3區(qū)。
期刊發(fā)文分析
機構發(fā)文量統(tǒng)計
機構 | 發(fā)文量 |
UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE) | 12 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 11 |
CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE (CNR) | 9 |
TECHNISCHE UNIVERSITAT WIEN | 9 |
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQ... | 8 |
HELMHOLTZ ASSOCIATION | 8 |
UPPSALA UNIVERSITY | 8 |
CZECH ACADEMY OF SCIENCES | 7 |
HUNAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY | 7 |
UNIVERSITY OF DELHI | 7 |
國家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
國家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
USA | 39 |
CHINA MAINLAND | 31 |
GERMANY (FED REP GER) | 30 |
India | 28 |
Japan | 26 |
Italy | 19 |
Russia | 15 |
Sweden | 15 |
France | 13 |
Poland | 12 |
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
J ELECTRON SPECTROSC | 148 |
PHYS REV A | 148 |
PHYS REV LETT | 132 |
PHYS REV B | 131 |
J PHYS B-AT MOL OPT | 110 |
J CHEM PHYS | 102 |
SURF INTERFACE ANAL | 91 |
APPL SURF SCI | 56 |
SURF SCI | 54 |
ATOM DATA NUCL DATA | 51 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
J PHYS CHEM C | 181 |
PHYS REV B | 154 |
J CHEM PHYS | 151 |
PHYS CHEM CHEM PHYS | 151 |
J ELECTRON SPECTROSC | 148 |
APPL SURF SCI | 139 |
ACS APPL MATER INTER | 89 |
PHYS REV A | 79 |
J PHYS CHEM A | 69 |
SURF INTERFACE ANAL | 64 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
XPS in industry-Problems with binding ener... | 15 |
Chemical bonding in carbide MXene nanoshee... | 14 |
Chemical surface analysis on materials and... | 11 |
Imaging XPS for industrial applications | 10 |
Automated electron-optical system optimiza... | 10 |
Electronic and magnetic properties of the ... | 9 |
Reliable absorbance measurement of liquid ... | 9 |
Electronic properties of composite iron (I... | 8 |
Investigation of local geometrical structu... | 6 |
Effect of argon sputtering on XPS depth-pr... | 6 |