《Infrared Physics & Technology》雜志影響因子：3.1。
期刊Infrared Physics & Technology近年評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)趨勢(shì)圖
期刊影響因子趨勢(shì)圖
以下是一些常見(jiàn)的影響因子查詢(xún)?nèi)肟冢?
（1）Web of Science：是查詢(xún)SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺(tái)，收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊，提供詳細(xì)的期刊引證報(bào)告，包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。
（2）?Journal Citation Reports (JCR)：JCR是科睿唯安旗下的一個(gè)網(wǎng)站，提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶(hù)可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。
（3）中科院SCI期刊分區(qū)表：提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢(xún)，包括影響因子和分區(qū)信息。
《Infrared Physics & Technology》雜志是由Elsevier出版社主辦的一本以光學(xué)-物理為研究方向，OA非開(kāi)放（Not Open Access）的國(guó)際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語(yǔ)言為English，創(chuàng)刊于1994年。自創(chuàng)刊以來(lái)，已被SCIE（科學(xué)引文索引擴(kuò)展板）等國(guó)內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文，重點(diǎn)介紹了INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION在分析和實(shí)踐中的理論、研究和應(yīng)用。
?學(xué)術(shù)地位：在JCR分區(qū)中位列Q2區(qū)，中科院分區(qū)為物理與天體物理大類(lèi)3區(qū)，INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION儀器儀表小類(lèi)3區(qū)。
期刊發(fā)文分析
國(guó)家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
| 國(guó)家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
| CHINA MAINLAND | 690 |
| India | 61 |
| USA | 58 |
| Iran | 39 |
| England | 32 |
| Poland | 30 |
| Russia | 28 |
| South Korea | 23 |
| Canada | 22 |
| Italy | 19 |
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
| 期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
| INFRARED PHYS TECHN | 721 |
| APPL PHYS LETT | 261 |
| OPT EXPRESS | 195 |
| APPL OPTICS | 172 |
| IEEE T GEOSCI REMOTE | 163 |
| J APPL PHYS | 155 |
| NDT&E INT | 136 |
| OPT LETT | 123 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 116 |
| J ELECTRON MATER | 105 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
| 期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
| INFRARED PHYS TECHN | 721 |
| IEEE ACCESS | 182 |
| SENSORS-BASEL | 101 |
| REMOTE SENS-BASEL | 85 |
| OPTIK | 84 |
| APPL OPTICS | 64 |
| OPT QUANT ELECTRON | 61 |
| APPL SCI-BASEL | 49 |
| MATER RES EXPRESS | 49 |
| OPT EXPRESS | 49 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
| 文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
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