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Iete Technical Review雜志影響因子查詢?nèi)肟冢?/h1>

《Iete Technical Review》雜志影響因子:2.5。

期刊Iete Technical Review近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖

期刊影響因子趨勢圖

以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?

(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺,收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊,提供詳細(xì)的期刊引證報告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。

(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。

(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。

《Iete Technical Review》雜志是由Taylor and Francis Ltd.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-電信學(xué)為研究方向,OA開放獲?。∣pen Access)的國際優(yōu)秀期刊。

該雜志出版語言為English,創(chuàng)刊于1984年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學(xué)引文索引擴展板)等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應(yīng)用。

?學(xué)術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q2區(qū),中科院分區(qū)為計算機科學(xué)大類4區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類4區(qū)。

期刊發(fā)文分析

國家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
國家 / 地區(qū) 發(fā)文量
India 171
CHINA MAINLAND 51
South Korea 21
Mexico 7
Malaysia 5
Canada 4
England 4
Taiwan 4
USA 4
Russia 3
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T ELECTRON DEV 36
IETE TECH REV 32
IEEE ELECTR DEVICE L 24
PATTERN RECOGN 13
IEEE T ANTENN PROPAG 12
IEEE T IND ELECTRON 11
IEEE COMMUN MAG 10
ELECTRON LETT 9
IEEE J SEL AREA COMM 9
J APPL PHYS 9
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊被引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE ACCESS 59
IETE TECH REV 32
MULTIMED TOOLS APPL 25
SENSORS-BASEL 21
IETE J RES 13
MICROSC RES TECHNIQ 13
WIRELESS PERS COMMUN 13
AEU-INT J ELECTRON C 9
EUR PHYS J-SPEC TOP 9
CLUSTER COMPUT 7
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
文章引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
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Iete Technical Review雜志

Iete Technical Review

出版商:Taylor and Francis Ltd.

研究方向:工程技術(shù)-電信學(xué)

中科院分區(qū):4區(qū),JCR分區(qū):Q2

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