《Iet Circuits Devices & Systems》雜志影響因子:1。
期刊Iet Circuits Devices & Systems近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?
(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺,收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊,提供詳細的期刊引證報告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。
(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。
(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。
《Iet Circuits Devices & Systems》雜志是由Wiley出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程:電子與電氣為研究方向,OA開放獲?。∣pen Access)的國際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語言為English,創(chuàng)刊于2007年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學(xué)引文索引擴展板)等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應(yīng)用。
?學(xué)術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q4區(qū),中科院分區(qū)為工程技術(shù)大類4區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類4區(qū)。
期刊發(fā)文分析
國家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
國家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
India | 169 |
CHINA MAINLAND | 68 |
Iran | 53 |
USA | 35 |
Canada | 22 |
Taiwan | 21 |
South Korea | 17 |
Turkey | 14 |
Egypt | 9 |
France | 9 |
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IEEE J SOLID-ST CIRC | 200 |
IEEE T ELECTRON DEV | 184 |
IEEE T CIRCUITS-I | 142 |
IEEE T CIRCUITS-II | 98 |
ELECTRON LETT | 92 |
IEEE T POWER ELECTR | 83 |
IET CIRC DEVICE SYST | 83 |
IEEE T VLSI SYST | 82 |
IEEE T COMPUT AID D | 53 |
IEEE T MICROW THEORY | 52 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IET CIRC DEVICE SYST | 83 |
IEEE ACCESS | 43 |
J CIRCUIT SYST COMP | 35 |
MICROELECTRON J | 34 |
AEU-INT J ELECTRON C | 29 |
ANALOG INTEGR CIRC S | 22 |
CIRC SYST SIGNAL PR | 21 |
ELECTRONICS-SWITZ | 17 |
IEEE T ELECTRON DEV | 13 |
IEICE ELECTRON EXPR | 11 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
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