《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》雜志影響因子：2.3。
期刊Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?
（1）Web of Science：是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺，收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊，提供詳細的期刊引證報告，包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標。
（2）?Journal Citation Reports (JCR)：JCR是科睿唯安旗下的一個網(wǎng)站，提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。
（3）中科院SCI期刊分區(qū)表：提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢，包括影響因子和分區(qū)信息。
《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程：電子與電氣為研究方向，OA非開放（Not Open Access）的國際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語言為English，創(chuàng)刊于1988年。自創(chuàng)刊以來，已被SCIE（科學(xué)引文索引擴展板）等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文，重點介紹了PHYSICS, APPLIED在分析和實踐中的理論、研究和應(yīng)用。
?學(xué)術(shù)地位：在JCR分區(qū)中位列Q2區(qū)，中科院分區(qū)為工程技術(shù)大類3區(qū)，PHYSICS, APPLIED物理：應(yīng)用小類3區(qū)。
期刊發(fā)文分析
機構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計
| 機構(gòu) | 發(fā)文量 |
| SAMSUNG | 14 |
| GLOBALFOUNDRIES | 11 |
| SAMSUNG ELECTRONICS | 10 |
| KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIENCE & TECH... | 8 |
| UNIVERSITY OF NORTH CAROLINA | 8 |
| INTEL CORPORATION | 7 |
| NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY | 7 |
| SKYWORKS SOLUT INC | 7 |
| ASML HOLDING | 6 |
| IMEC | 6 |
國家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
| 國家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
| USA | 83 |
| South Korea | 40 |
| CHINA MAINLAND | 38 |
| Japan | 29 |
| Taiwan | 25 |
| GERMANY (FED REP GER) | 15 |
| Belgium | 6 |
| India | 6 |
| Netherlands | 6 |
| Singapore | 6 |
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
| 期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
| IEEE T SEMICONDUCT M | 182 |
| INT J PROD RES | 33 |
| EXPERT SYST APPL | 30 |
| IEEE T AUTOM SCI ENG | 25 |
| J APPL PHYS | 19 |
| JPN J APPL PHYS | 18 |
| APPL PHYS LETT | 17 |
| J ELECTROCHEM SOC | 16 |
| J MACH LEARN RES | 16 |
| CHEMOMETR INTELL LAB | 15 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
| 期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
| IEEE T SEMICONDUCT M | 182 |
| IEEE T AUTOM SCI ENG | 79 |
| IEEE ACCESS | 48 |
| ECS J SOLID STATE SC | 33 |
| COMPUT IND ENG | 24 |
| INT J PROD RES | 20 |
| J MANUF SYST | 17 |
| COMPUT IND | 16 |
| IEEE T ELECTRON DEV | 16 |
| INT J ADV MANUF TECH | 16 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
| 文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
| Wafer Map Defect Pattern Classification an... | 41 |
| Classification of Mixed-Type Defect Patter... | 24 |
| Hybrid Particle Swarm Optimization Combine... | 23 |
| Convolutional Neural Network for Wafer Sur... | 22 |
| AdaBalGAN: An Improved Generative Adversar... | 15 |
| A Voting Ensemble Classifier for Wafer Map... | 15 |
| Epitaxial beta-Ga2O3 and beta-(AlxGa1-x)(2... | 15 |
| Decision Tree Ensemble-Based Wafer Map Fai... | 13 |
| A Data Driven Cycle Time Prediction With F... | 12 |
| Deep-Structured Machine Learning Model for... | 12 |
