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Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence雜志影響因子查詢?nèi)肟冢?/h1>

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》雜志影響因子:20.8。

期刊Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖

期刊影響因子趨勢圖

以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?

(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺,收錄全球高質(zhì)量學術(shù)期刊,提供詳細的期刊引證報告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標。

(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。

(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》雜志是由IEEE Computer Society出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國際優(yōu)秀期刊。

該雜志出版語言為English,創(chuàng)刊于1979年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學引文索引擴展板)等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點介紹了COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE在分析和實踐中的理論、研究和應(yīng)用。

?學術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q1區(qū),中科院分區(qū)為計算機科學大類1區(qū),COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE計算機:人工智能小類1區(qū)。

期刊發(fā)文分析

機構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計
機構(gòu) 發(fā)文量
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 60
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM 47
MICROSOFT 29
NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY & NATIONA... 24
TSINGHUA UNIVERSITY 24
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQ... 23
PEKING UNIVERSITY 23
IMPERIAL COLLEGE LONDON 21
UNIVERSITY OF LONDON 20
UNIVERSITY OF SYDNEY 20
國家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
國家 / 地區(qū) 發(fā)文量
USA 271
CHINA MAINLAND 266
England 81
Australia 62
Singapore 51
GERMANY (FED REP GER) 49
France 44
South Korea 35
Italy 34
Switzerland 31
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T PATTERN ANAL 947
INT J COMPUT VISION 342
IEEE T IMAGE PROCESS 274
ACM T GRAPHIC 169
J MACH LEARN RES 164
PATTERN RECOGN 83
IMAGE VISION COMPUT 56
IEEE T MULTIMEDIA 52
COMPUT VIS IMAGE UND 49
IEEE T KNOWL DATA EN 46
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊被引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE ACCESS 4700
MULTIMED TOOLS APPL 1793
IEEE T IMAGE PROCESS 1411
SENSORS-BASEL 1301
NEUROCOMPUTING 1287
PATTERN RECOGN 1119
IEEE T PATTERN ANAL 947
REMOTE SENS-BASEL 887
IEEE T CIRC SYST VID 658
PATTERN RECOGN LETT 637
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
文章引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
DeepLab: Semantic Image Segmentation with ... 1207
Places: A 10 Million Image Database for Sc... 155
HyperFace: A Deep Multi-Task Learning Fram... 129
Direct Sparse Odometry 121
Long-Term Temporal Convolutions for Action... 105
Multimodal Machine Learning: A Survey and ... 104
A Survey on Learning to Hash 84
SIFT Meets CNN: A Decade Survey of Instanc... 79
Virtual Adversarial Training: A Regulariza... 67
Deeply Supervised Salient Object Detection... 66

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence雜志

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence

出版商:IEEE Computer Society

研究方向:工程技術(shù)-工程:電子與電氣

中科院分區(qū):1區(qū),JCR分區(qū):Q1

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