《Ieee Transactions On Electromagnetic Compatibility》雜志影響因子:2。
期刊Ieee Transactions On Electromagnetic Compatibility近年評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)趨勢(shì)圖
期刊影響因子趨勢(shì)圖
以下是一些常見(jiàn)的影響因子查詢(xún)?nèi)肟冢?
(1)Web of Science:是查詢(xún)SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺(tái),收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊,提供詳細(xì)的期刊引證報(bào)告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。
(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個(gè)網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶(hù)可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。
(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢(xún),包括影響因子和分區(qū)信息。
《Ieee Transactions On Electromagnetic Compatibility》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-電信學(xué)為研究方向,OA非開(kāi)放(Not Open Access)的國(guó)際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語(yǔ)言為English,創(chuàng)刊于1959年。自創(chuàng)刊以來(lái),已被SCIE(科學(xué)引文索引擴(kuò)展板)等國(guó)內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點(diǎn)介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實(shí)踐中的理論、研究和應(yīng)用。
?學(xué)術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q3區(qū),中科院分區(qū)為計(jì)算機(jī)科學(xué)大類(lèi)3區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類(lèi)3區(qū)。
期刊發(fā)文分析
機(jī)構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
機(jī)構(gòu) | 發(fā)文量 |
UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM | 91 |
UNIVERSITY OF L'AQUILA | 44 |
ZHEJIANG UNIVERSITY | 33 |
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQ... | 26 |
XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY | 26 |
ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE | 24 |
POLYTECHNIC UNIVERSITY OF MILAN | 18 |
POLYTECHNIC UNIVERSITY OF TURIN | 17 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 15 |
US FOOD & DRUG ADMINISTRATION (FDA) | 15 |
國(guó)家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
國(guó)家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
CHINA MAINLAND | 244 |
USA | 175 |
Italy | 113 |
France | 59 |
Japan | 58 |
South Korea | 49 |
GERMANY (FED REP GER) | 40 |
Canada | 39 |
Switzerland | 32 |
England | 31 |
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IEEE T ELECTROMAGN C | 1048 |
J GEOPHYS RES-ATMOS | 192 |
IEEE T ANTENN PROPAG | 173 |
IEEE T POWER DELIVER | 166 |
IEEE T MICROW THEORY | 125 |
IEEE T POWER ELECTR | 69 |
IEEE ANTENN WIREL PR | 62 |
IEEE T COMP PACK MAN | 57 |
IEEE T MAGN | 47 |
IEEE T ELECTRON DEV | 39 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IEEE T ELECTROMAGN C | 1048 |
IEEE ACCESS | 311 |
IEEE T ANTENN PROPAG | 142 |
IEEE T MICROW THEORY | 135 |
IEEE T COMP PACK MAN | 114 |
ELECTR POW SYST RES | 113 |
ELECTRONICS-SWITZ | 107 |
APPL COMPUT ELECTROM | 97 |
IET MICROW ANTENNA P | 88 |
IET SCI MEAS TECHNOL | 87 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
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Variability Impact of Many Design Paramete... | 10 |
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