Journal Of Vacuum Science & Technology B(真空科學與技術學報B雜志)是由A V S AMER INST PHYSICS出版社主辦的一本以工程技術-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國際優(yōu)秀期刊。旨在幫助發(fā)展和壯大工程技術及相關學科的各個方面。該期刊接受多種不同類型的文章。本刊出版語言為English,創(chuàng)刊于1991年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學引文索引擴展板)等國內外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質量的論文,重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應用。
ISSN:1071-1023
E-ISSN:2166-2754
出版商:A V S AMER INST PHYSICS
出版語言:English
出版地區(qū):UNITED STATES
出版周期:Bimonthly
是否OA:未開放
是否預警:否
創(chuàng)刊時間:1991
年發(fā)文量:197
影響因子:1.5
研究類文章占比:96.45%
Gold OA文章占比:16.37%
出版國人文章占比:
出版撤稿文章占比:
開源占比:0.22...
文章自引率:0.1428...
《Journal Of Vacuum Science & Technology B》是一份國際優(yōu)秀期刊,為工程技術領域的研究人員和從業(yè)者提供科學論壇。該期刊涵蓋了工程技術及相關學科的所有方面,包括基礎和應用研究,使讀者能夠獲得來自世界各地的最新、前沿的研究。該期刊歡迎涉及工程技術領域的原創(chuàng)理論、方法、技術和重要應用的稿件,并刊載了涉及工程技術領域的相關欄目:綜述、論著、述評、論著摘要等。所有投稿都有望達到高標準的科學嚴謹性,并為推進該領域的科研知識傳播做出貢獻。該期刊,最新影響因子為1.5。
按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 252 / 352 |
28.6% |
學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 115 / 140 |
18.2% |
學科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 134 / 179 |
25.4% |
按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 278 / 354 |
21.61% |
學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 115 / 140 |
18.21% |
學科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 145 / 179 |
19.27% |
WOS(JCR)分區(qū)是由科睿唯安公司提出的一種新的期刊評價指標,分區(qū)越靠前一般代表期刊質量越好,發(fā)文難度也越高。這種分級體系有助于科研人員快速了解各個期刊的影響力和地位。JCR將所有期刊按照各個學科領域進行分類,然后以影響因子為標準平均分為四個等級:Q1、Q2、Q3和Q4區(qū)。這種設計使得科研人員可以更容易地進行跨學科比較。
中科院SCI期刊分區(qū)是由中國科學院國家科學圖書館制定的。將所有的期刊按照學科進行分類,以影響因子為標準平均分為四個等級。分區(qū)越靠前一般代表期刊質量越好,發(fā)文難度也越高。
2023年12月升級版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 |
否 | 否 | 工程技術 4區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技
PHYSICS, APPLIED
物理:應用
4區(qū)
4區(qū)
4區(qū)
|
2021年12月舊的升級版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 |
否 | 否 | 工程技術 4區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技
PHYSICS, APPLIED
物理:應用
4區(qū)
4區(qū)
4區(qū)
|
2021年12月基礎版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 |
否 | 否 | 工程技術 4區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技
PHYSICS, APPLIED
物理:應用
4區(qū)
4區(qū)
4區(qū)
|
2021年12月升級版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 |
否 | 否 | 工程技術 4區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技
PHYSICS, APPLIED
物理:應用
4區(qū)
4區(qū)
4區(qū)
|
2020年12月舊的升級版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類學科 | 小類學科 |
否 | 否 | 工程技術 4區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
納米科技
PHYSICS, APPLIED
物理:應用
4區(qū)
4區(qū)
4區(qū)
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Journal Of Vacuum Science & Technology B(中文譯名真空科學與技術學報B雜志)是一本專注于工程技術,工程:電子與電氣領域的國際期刊,致力于為全球ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究者提供一個高質量的學術交流平臺。該期刊ISSN:1071-1023,E-ISSN:2166-2754,出版周期Bimonthly。在中科院的大類學科分類中,該期刊屬于工程技術范疇,而在小類學科中,它主要涵蓋了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC這一領域。編輯部誠摯邀請廣大工程技術領域的專家學者投稿,內容可以涵蓋工程技術的綜合研究、實踐應用、創(chuàng)新成果等方面。同時,我們也歡迎學者們就相關主題進行簡短的交流和評論,以促進學術界的互動與合作。為了保證期刊的質量,審稿周期預計為 約3.0個月 。在此期間,編輯部將對所有投稿進行嚴格的同行評審,以確保發(fā)表的文章具有較高的學術價值和實用性。
值得一提的是,Journal Of Vacuum Science & Technology B近期并未被列入國際期刊預警名單,這意味著其學術質量和影響力得到了廣泛認可。該期刊為工程技術領域的學者提供了一個優(yōu)質的學術交流平臺。因此,關注并投稿至Journal Of Vacuum Science & Technology B無疑是一個明智的選擇,這將有助于提升您的學術聲譽和研究成果的傳播。
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投稿咨詢期刊引用數據 | 引用次數 |
APPL PHYS LETT | 314 |
J VAC SCI TECHNOL B | 201 |
J APPL PHYS | 198 |
PHYS REV B | 108 |
J VAC SCI TECHNOL A | 80 |
NANO LETT | 77 |
THIN SOLID FILMS | 66 |
APPL SURF SCI | 62 |
MICROELECTRON ENG | 62 |
NANOTECHNOLOGY | 62 |
期刊被引用數據 | 引用次數 |
JPN J APPL PHYS | 267 |
J APPL PHYS | 249 |
J VAC SCI TECHNOL B | 201 |
APPL SURF SCI | 152 |
J VAC SCI TECHNOL A | 141 |
ACS APPL MATER INTER | 126 |
NANOTECHNOLOGY | 121 |
APPL PHYS LETT | 112 |
ECS J SOLID STATE SC | 105 |
MATER RES EXPRESS | 94 |
文章引用數據 | 引用次數 |
Review Article: Synthesis, properties, and... | 21 |
Review Article: Atomic layer deposition of... | 14 |
Tutorial on interpreting x-ray photoelectr... | 9 |
Future prospects of fluoride based upconve... | 7 |
Realizing ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 with ... | 7 |
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Direct metal etch of ruthenium for advance... | 6 |
Reduced twinning and surface roughness of ... | 6 |
Atomic force microscope integrated with a ... | 6 |
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