《International Journal Of Applied Electromagnetics And Mechanics》雜志影響因子:1.1。
期刊International Journal Of Applied Electromagnetics And Mechanics近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?
(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺,收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊,提供詳細(xì)的期刊引證報告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。
(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。
(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。
《International Journal Of Applied Electromagnetics And Mechanics》雜志是由IOS Press出版社主辦的一本以物理-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語言為English,創(chuàng)刊于1995年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學(xué)引文索引擴展板)等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應(yīng)用。
?學(xué)術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q4區(qū),中科院分區(qū)為工程技術(shù)大類4區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類4區(qū)。
期刊發(fā)文分析
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IEEE T MAGN | 529 |
INT J APPL ELECTROM | 331 |
J MAGN MAGN MATER | 101 |
IEEE T IND ELECTRON | 94 |
IEEE T IND APPL | 90 |
NDT&E INT | 85 |
J APPL PHYS | 79 |
SMART MATER STRUCT | 70 |
SENSOR ACTUAT A-PHYS | 42 |
IEEE T ENERGY CONVER | 40 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
INT J APPL ELECTROM | 331 |
IEEE ACCESS | 55 |
IEEE T MAGN | 43 |
SENSORS-BASEL | 24 |
PHYSICA A | 23 |
AIP ADV | 20 |
ENERGIES | 18 |
J MAGN MAGN MATER | 18 |
SMART MATER STRUCT | 18 |
APPL SCI-BASEL | 15 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
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