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Ieee Transactions On Plasma Science雜志影響因子查詢?nèi)肟冢?/h1>

《Ieee Transactions On Plasma Science》雜志影響因子:1.3。

期刊Ieee Transactions On Plasma Science近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖

期刊影響因子趨勢圖

以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?

(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺,收錄全球高質(zhì)量學術(shù)期刊,提供詳細的期刊引證報告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關鍵指標。

(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關指標。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。

(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。

《Ieee Transactions On Plasma Science》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以物理:流體與等離子體-物理為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國際優(yōu)秀期刊。

該雜志出版語言為English,創(chuàng)刊于1973年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學引文索引擴展板)等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點介紹了PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS在分析和實踐中的理論、研究和應用。

?學術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q3區(qū),中科院分區(qū)為物理與天體物理大類4區(qū),PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS物理:流體與等離子體小類4區(qū)。

期刊發(fā)文分析

期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T PLASMA SCI 2237
PHYS PLASMAS 882
J PHYS D APPL PHYS 759
IEEE T MAGN 593
J APPL PHYS 583
PLASMA SOURCES SCI T 427
APPL PHYS LETT 341
PHYS REV LETT 300
REV SCI INSTRUM 278
IEEE T DIELECT EL IN 268
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊被引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T PLASMA SCI 2237
PHYS PLASMAS 585
J PHYS D APPL PHYS 364
PLASMA SOURCES SCI T 296
J APPL PHYS 236
AIP ADV 211
FUSION ENG DES 209
IEEE ACCESS 201
IEEE T ELECTRON DEV 180
PLASMA SCI TECHNOL 172
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
文章引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
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Ieee Transactions On Plasma Science雜志

Ieee Transactions On Plasma Science

出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

研究方向:物理:流體與等離子體-物理

中科院分區(qū):4區(qū),JCR分區(qū):Q3

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