《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)》雜志投稿要求,如下:
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電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)雜志發(fā)文分析
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)主要機(jī)構(gòu)發(fā)文分析
機(jī)構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 | 主要研究主題 |
信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所 | 1048 | 可靠性;電路;集成電路;元器件;電子元 |
工業(yè)和信息化部電子第五研究所 | 519 | 可靠性;元器件;IEC標(biāo)準(zhǔn);電子元;電路 |
電子部 | 130 | 可靠性;元器件;電子元;電子元器件;電子產(chǎn)品 |
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)》... | 95 | 數(shù)據(jù)規(guī)范;辦刊;辦刊宗旨;投稿;投稿須知 |
工業(yè)和信息化部 | 55 | 網(wǎng)絡(luò);可靠性;質(zhì)量管理;數(shù)字化;人工智能 |
國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué) | 53 | 可靠性;可靠性評(píng)估;貝葉斯;可靠性分析;貝葉斯方法 |
華南理工大學(xué) | 51 | 可靠性;晶體管;砷化鎵;界面態(tài);半導(dǎo)體 |
中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室 | 40 | 可靠性;元器件;電子元;電子元器件;電子器件 |
中國(guó)空間技術(shù)研究院 | 40 | 可靠性;宇航;元器件;航天;破壞性物理分析 |
中國(guó)電子科技集團(tuán)第五十八研究... | 39 | 封裝;可靠性;倒裝焊;芯片;CCGA |
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)》雜志是由工業(yè)和信息化部電子第五研究所(中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所)工業(yè)和信息化部電子第五研究所 (中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所) (中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室)主辦的雙月刊,審稿周期預(yù)計(jì)為1個(gè)月內(nèi)。該雜志的欄目設(shè)置豐富多樣,涵蓋自動(dòng)化技術(shù)及設(shè)備、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)、計(jì)量與測(cè)試技術(shù)、可靠性與環(huán)境適應(yīng)性理論研究、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)及評(píng)價(jià)、仿真建模與分析、軟件可靠性與評(píng)測(cè)技術(shù)、可靠性設(shè)計(jì)與工藝控制、電子、電路設(shè)計(jì)與應(yīng)用等等。
該雜志為學(xué)者們提供了一個(gè)交流學(xué)術(shù)成果和經(jīng)驗(yàn)的平臺(tái),發(fā)表的文章具有較高的學(xué)術(shù)水平和實(shí)踐價(jià)值,為讀者提供更多的實(shí)踐案例和行業(yè)信息,得到了廣大讀者的廣泛關(guān)注和引用。