Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems(超大規(guī)模集成 (vlsi) 系統(tǒng)上的 Ieee 事務(wù)雜志)是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開(kāi)放(Not Open Access)的國(guó)際優(yōu)秀期刊。旨在幫助發(fā)展和壯大工程技術(shù)及相關(guān)學(xué)科的各個(gè)方面。該期刊接受多種不同類(lèi)型的文章。本刊出版語(yǔ)言為English,創(chuàng)刊于1993年。自創(chuàng)刊以來(lái),已被SCIE(科學(xué)引文索引擴(kuò)展板)等國(guó)內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點(diǎn)介紹了COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE在分析和實(shí)踐中的理論、研究和應(yīng)用。
ISSN:1063-8210
E-ISSN:1557-9999
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版語(yǔ)言:English
出版地區(qū):UNITED STATES
出版周期:Bimonthly
是否OA:未開(kāi)放
是否預(yù)警:否
創(chuàng)刊時(shí)間:1993
年發(fā)文量:241
影響因子:2.8
研究類(lèi)文章占比:99.59%
Gold OA文章占比:7.13%
H-index:95
出版國(guó)人文章占比:0.15
出版撤稿文章占比:
開(kāi)源占比:0.09...
文章自引率:0.0714...
《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》是一份國(guó)際優(yōu)秀期刊,為工程技術(shù)領(lǐng)域的研究人員和從業(yè)者提供科學(xué)論壇。該期刊涵蓋了工程技術(shù)及相關(guān)學(xué)科的所有方面,包括基礎(chǔ)和應(yīng)用研究,使讀者能夠獲得來(lái)自世界各地的最新、前沿的研究。該期刊歡迎涉及工程技術(shù)領(lǐng)域的原創(chuàng)理論、方法、技術(shù)和重要應(yīng)用的稿件,并刊載了涉及工程技術(shù)領(lǐng)域的相關(guān)欄目:綜述、論著、述評(píng)、論著摘要等。所有投稿都有望達(dá)到高標(biāo)準(zhǔn)的科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)性,并為推進(jìn)該領(lǐng)域的科研知識(shí)傳播做出貢獻(xiàn)。該期刊最新CiteScore值為6.4,最新影響因子為2.8,SJR指數(shù)為0.937,SNIP指數(shù)為1.516。
CiteScore指標(biāo)的應(yīng)用非常廣泛,以期刊的引用次數(shù)為基礎(chǔ)評(píng)估期刊的影響力。它可以反映期刊的學(xué)術(shù)影響力和學(xué)術(shù)水平,是學(xué)術(shù)界常用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)之一。
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 排名 | ||||||||||||||||
6.4 | 0.937 | 1.516 |
|
CiteScore是由Elsevier公司開(kāi)發(fā)的一種用于衡量科學(xué)期刊影響力的指標(biāo),以期刊的引用次數(shù)為基礎(chǔ)評(píng)估期刊的影響力。這個(gè)指標(biāo)是由Scopus數(shù)據(jù)庫(kù)支持,以四年為一個(gè)時(shí)段,連續(xù)評(píng)估期刊和叢書(shū)的引文影響力的。具體來(lái)說(shuō),CiteScore是計(jì)算某期刊連續(xù)三年發(fā)表的論文在第四年度的篇均引用次數(shù)。CiteScore和影響因子(IF)有所不同。例如,在影響因子的計(jì)算中,分子是來(lái)自所有文章的引用次數(shù),包括編輯述評(píng)、讀者來(lái)信、更正信息和新聞等非研究性文章,而分母則不包括這些非研究性文章。然而,在CiteScore的計(jì)算中,分子和分母都包括這些非研究性文章。因此,如果這些非研究性文章比較多,由于分母較大,相較于影響因子,CiteScore計(jì)算出來(lái)的分?jǐn)?shù)可能會(huì)偏低。此外,CiteScore的引用數(shù)據(jù)來(lái)自Scopus數(shù)據(jù)庫(kù)中的22000多個(gè)期刊,比影響因子來(lái)自Web of Science數(shù)據(jù)庫(kù)的11000多個(gè)期刊多了一倍。
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 23 / 59 |
61.9% |
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 151 / 352 |
57.2% |
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 26 / 59 |
56.78% |
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 149 / 354 |
58.05% |
WOS(JCR)分區(qū)是由科睿唯安公司提出的一種新的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo),分區(qū)越靠前一般代表期刊質(zhì)量越好,發(fā)文難度也越高。這種分級(jí)體系有助于科研人員快速了解各個(gè)期刊的影響力和地位。JCR將所有期刊按照各個(gè)學(xué)科領(lǐng)域進(jìn)行分類(lèi),然后以影響因子為標(biāo)準(zhǔn)平均分為四個(gè)等級(jí):Q1、Q2、Q3和Q4區(qū)。這種設(shè)計(jì)使得科研人員可以更容易地進(jìn)行跨學(xué)科比較。
中科院SCI期刊分區(qū)是由中國(guó)科學(xué)院國(guó)家科學(xué)圖書(shū)館制定的。將所有的期刊按照學(xué)科進(jìn)行分類(lèi),以影響因子為標(biāo)準(zhǔn)平均分為四個(gè)等級(jí)。分區(qū)越靠前一般代表期刊質(zhì)量越好,發(fā)文難度也越高。
2023年12月升級(jí)版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類(lèi)學(xué)科 | 小類(lèi)學(xué)科 |
否 | 否 | 工程技術(shù) 2區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
2區(qū)
3區(qū)
|
2022年12月升級(jí)版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類(lèi)學(xué)科 | 小類(lèi)學(xué)科 |
否 | 否 | 工程技術(shù) 2區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
3區(qū)
3區(qū)
|
2021年12月舊的升級(jí)版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類(lèi)學(xué)科 | 小類(lèi)學(xué)科 |
否 | 否 | 工程技術(shù) 3區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
3區(qū)
3區(qū)
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2021年12月基礎(chǔ)版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類(lèi)學(xué)科 | 小類(lèi)學(xué)科 |
否 | 否 | 工程技術(shù) 4區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
4區(qū)
4區(qū)
|
2021年12月升級(jí)版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類(lèi)學(xué)科 | 小類(lèi)學(xué)科 |
否 | 否 | 工程技術(shù) 3區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
3區(qū)
3區(qū)
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2020年12月舊的升級(jí)版
Top期刊 | 綜述期刊 | 大類(lèi)學(xué)科 | 小類(lèi)學(xué)科 |
否 | 否 | 工程技術(shù) 2區(qū) |
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
計(jì)算機(jī):硬件
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
3區(qū)
3區(qū)
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Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems(中文譯名超大規(guī)模集成 (vlsi) 系統(tǒng)上的 Ieee 事務(wù)雜志)是一本專(zhuān)注于工程技術(shù),工程:電子與電氣領(lǐng)域的國(guó)際期刊,致力于為全球COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE領(lǐng)域的研究者提供一個(gè)高質(zhì)量的學(xué)術(shù)交流平臺(tái)。該期刊ISSN:1063-8210,E-ISSN:1557-9999,出版周期Bimonthly。在中科院的大類(lèi)學(xué)科分類(lèi)中,該期刊屬于工程技術(shù)范疇,而在小類(lèi)學(xué)科中,它主要涵蓋了COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE這一領(lǐng)域。編輯部誠(chéng)摯邀請(qǐng)廣大工程技術(shù)領(lǐng)域的專(zhuān)家學(xué)者投稿,內(nèi)容可以涵蓋工程技術(shù)的綜合研究、實(shí)踐應(yīng)用、創(chuàng)新成果等方面。同時(shí),我們也歡迎學(xué)者們就相關(guān)主題進(jìn)行簡(jiǎn)短的交流和評(píng)論,以促進(jìn)學(xué)術(shù)界的互動(dòng)與合作。為了保證期刊的質(zhì)量,審稿周期預(yù)計(jì)為 一般,3-6周 。在此期間,編輯部將對(duì)所有投稿進(jìn)行嚴(yán)格的同行評(píng)審,以確保發(fā)表的文章具有較高的學(xué)術(shù)價(jià)值和實(shí)用性。
值得一提的是,Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems近期并未被列入國(guó)際期刊預(yù)警名單,這意味著其學(xué)術(shù)質(zhì)量和影響力得到了廣泛認(rèn)可。該期刊為工程技術(shù)領(lǐng)域的學(xué)者提供了一個(gè)優(yōu)質(zhì)的學(xué)術(shù)交流平臺(tái)。因此,關(guān)注并投稿至Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems無(wú)疑是一個(gè)明智的選擇,這將有助于提升您的學(xué)術(shù)聲譽(yù)和研究成果的傳播。
多年來(lái),我們專(zhuān)注于期刊投稿服務(wù),能夠?yàn)槟治鐾扑]目標(biāo)期刊。憑借多年來(lái)豐富的投稿經(jīng)驗(yàn)和專(zhuān)業(yè)指導(dǎo),我們有效助力提升錄用幾率。點(diǎn)擊以下按鈕即可免費(fèi)咨詢(xún)。
投稿咨詢(xún)機(jī)構(gòu) | 發(fā)文量 |
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT... | 50 |
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM | 33 |
NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY & NATIONA... | 27 |
PURDUE UNIVERSITY SYSTEM | 23 |
UNIVERSITY SYSTEM OF GEORGIA | 23 |
STATE UNIVERSITY SYSTEM OF FLORIDA | 19 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 17 |
FUDAN UNIVERSITY | 17 |
HELMHOLTZ ASSOCIATION | 16 |
YONSEI UNIVERSITY | 16 |
國(guó)家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
USA | 300 |
CHINA MAINLAND | 163 |
India | 72 |
Taiwan | 70 |
South Korea | 67 |
Canada | 46 |
GERMANY (FED REP GER) | 42 |
Singapore | 38 |
Iran | 36 |
Japan | 24 |
期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IEEE J SOLID-ST CIRC | 610 |
IEEE T VLSI SYST | 397 |
IEEE T COMPUT AID D | 259 |
IEEE T CIRCUITS-I | 258 |
IEEE T CIRCUITS-II | 162 |
IEEE T COMPUT | 131 |
IEEE T ELECTRON DEV | 114 |
P IEEE | 80 |
ELECTRON LETT | 60 |
IEEE T POWER ELECTR | 44 |
期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IEEE T VLSI SYST | 397 |
IEEE ACCESS | 312 |
IEEE T CIRCUITS-I | 261 |
INTEGRATION | 173 |
IEEE T COMPUT AID D | 134 |
ELECTRONICS-SWITZ | 123 |
IEEE T CIRCUITS-II | 110 |
MICROELECTRON J | 107 |
IEICE ELECTRON EXPR | 106 |
J CIRCUIT SYST COMP | 105 |
文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
Novel Systolization of Subquadratic Space ... | 58 |
Optimizing the Convolution Operation to Ac... | 27 |
Computing in Memory With Spin-Transfer Tor... | 22 |
A High-Throughput and Power-Efficient FPGA... | 19 |
Self-Optimizing and Self-Programming Compu... | 13 |
Low-Power and Fast Full Adder by Exploring... | 13 |
Systematic Design of an Approximate Adder:... | 12 |
Robust Design-for-Security Architecture fo... | 12 |
Experimental Investigation of 4-kb RRAM Ar... | 12 |
Radiation-Hardened 14T SRAM Bitcell With S... | 12 |
若用戶需要出版服務(wù),請(qǐng)聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。